TWOJA PRZEGLĄDARKA JEST NIEAKTUALNA.
Wykryliśmy, że używasz nieaktualnej przeglądarki, przez co nasz serwis może dla Ciebie działać niepoprawnie. Zalecamy aktualizację lub przejście na inną przeglądarkę.
Data: 12.10.2020
Mgr inż. Rafał Palak i dr inż.Krystian Wojtkiewicz z Katedry Informatyki Stosowanej, w niekonwencjonalnysposób zmierzyli się z problemem mierzenia centralizacji w grafach. Za swojąpracę zostali wyróżnieni na prestiżowej międzynarodowej konferencji IEA/AIE2020 (33th International Conference on Industrial, Engineering & OtherApplications of Applied Intelligent Systems) zdobywając nagrodę Best PosterPaper.
iea-aie-bestpaper.pdf [ .pdf 281.00 KB ] |
12-10-2020 |
Nasze strony internetowe i oparte na nich usługi używają informacji zapisanych w plikach cookies. Korzystając z serwisu wyrażasz zgodę na używanie plików cookies zgodnie z aktualnymi ustawieniami przeglądarki, które możesz zmienić w dowolnej chwili. Ochrona danych osobowych »